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圖 6、UL 標章常見於各類產品 圖 7、非線性負載所造成之波形失真

諧波失真波形
原始波形

內部故障而轉跳至旁路模式，因
圖 8、Group D~F 壓降測試點
此，參考歷年壓降紀錄制定出壓
降降幅 5%~15% 與壓降持續時間
100%
1 週 期 ~4 週 期（1 週 期 =1/60 秒
90%
=16.7 毫秒）之輕微壓降條件，其
80%
中 Group D、E、F 分別對應到 5%、
70% 10%、15% 之 降 幅。 圖8 顯示
Nominal Voltage Ratio 50% Group D~F 之壓降測試條件，從圖
60%
中可看出測試點落於 SEMI F47 所
40%
30% SEMI F47壓降曲線 規範之 A 類及 B 類區域中。
Group D Test Point 最終，我們擬定國際半導體標準
20%
Group E Test Point 的 壓 降 測 試 項 目（Group A/B，
10% Group F Test Point
共 18 項 ） 於 Eaton 美 國 RPO 廠
0%
0.01 0.1 1 10 執行測試、非線性負載壓降測試項
Duration (sec) 目（Group C， 共 14 項 ） 分 別 於
Eaton 美國 RPO 廠（8 項）及亞太
台北廠（6 項）執行測試、tsmc 歷
表 2、壓降驗證項目總覽 年失效案例加嚴測試項目（Group
D/E/F， 共 84 項 ） 分 別 於 Eaton
測試類別 測試項目 測試地點 測試結果 美國 RPO 廠（48 項）及亞太台北
廠（36 項）執行測試，共計 116
GroupA/B 18 US(18) Pass 項，如 表2 所示。
半導體國際標準
Group C 14 US(8) Pass
非線性負載 TW(6)
Group D/E/F 84 US(48) Pass
歷年失效案例 TW(36)
結果與分析

測試計畫第三部分（總計 84 項） Module, UPM) 偵 測 到 輸 出 單 相 新版韌體節能模式壓降驗證計畫共
為 Group D~F，是依據過往案例針 電 壓 低電 壓 但 控 制 板模 組 (Main 計 116 項 於 2016/10/21 全 數 通
對輕微壓降進行驗證。據經驗，壓 Control Unit, MCU) 偵測不到旁路 過驗證，其中國際半導體壓降標準
降程度較輕易使 UPS 轉態失效， 三相合成電壓過低，此情況會使 測 試 (Group A/B) 更 透 過 第 三 方
例如單相 10% 壓降，會使得不 UPS 判斷輸出異常但旁路正常， 測試實驗室 UL 的全程監督，公證
斷 電 模 組 (Uninterruptible Power 在舊版韌體中，UPS 可能會視為 本次之驗證過程。以下針對各個

300mm FABS FACILITY JOURNAL MARCH 2017 19