Page 78 - Vol.44

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技術專文

圖4、剖面示意
圖8、管路表面分子受力示意[接收端]

圖5、靜磁場作用示意

圖9、往復受力產生渦電流

圖6、管路表面分子受力示意[發射端]

圖10、接收端線圈產生感應電流

3.2 資料處理及分析方法

呈上述原理，由發射端發出訊號後，產生超音波於待測
物體內傳遞，若途經缺陷便會降低原超音波震幅，並產生缺
陷繞射波，與原本的超音波進行干涉(圖11)。

圖7、往復受力產生微振超音波

儀器接收端為同樣架構反向機制：高頻振動傳至儀器
接收端下方時，會因為磁鐵提供的外部靜磁場產生出渦電流
(圖8、圖9)，而儀器接收端的線圈會因為渦電流產生感應電
流(圖10)，感應電流最終輸出至儀器被量測出來，進行後續
資料處理、分析、解讀。 圖11、模態及缺陷造成的干涉

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