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圖一、AMC 五大類    [1]                圖二、潔淨室 AMC 去除設備與量測儀器位置示意圖


                     IC             IC
                  MA (Acid)      MB (Base)
                                 NH , Amines                                           Outside Air
               HF, HCl, HBr, SO , NOx
                                                  LRF
                HCOOH, CH COOH   O
                 無機酸、有機酸                                                              Chemical
                                  N  CH                                                Filter  Fan  Air  Washer
                                                                                  TS/NH 3             TS/NH 3


                          ME (Else)
                                                                                        外氣空調箱機房
                        未分類干擾氣體
                         SF , N O, CF             L40                                  TAPI  TS/NH 3   Analyzer
                                                                                                 Chemical  Filter
                         (特殊強項)
                                                                                         Fan  Filter  Unit
                                                        Return Air Shaft                          Calamity
                                                                      TOC  HCl,NF3  VOC  MA,MB,MC  Fab
                   GC-MS          ICP-MS          L30                           Portable-PID  Impingers  Purge Fan
                MC (Condensable)  MD (Dopant)
                  O  Phthalic
                   O             B, BF , B H
                    anhydride
                  O
                                   P, PH                                                      Clean  Sub  Fab
                  O               As, AsH
                  O  CH  DBP                      L20                GC-FID  IMS                Purge Fan
                  O  CH
                  O



              前言                               match),如期讓設備進行裝機,達              磷、砷等;以及其他未分類物 (no
                                               到製程生產的目的。                       classes)。


              半導體製程中的潔淨室所能容忍的
              汙染物濃度極低,但在建廠期間因                  AMC 種類                          環境監控儀器
              為各種施工(例如土建工程及內裝
              材料等)釋出大量汙染氣體,對於
                                               氣態分子污染物歸納為五類,如                  建廠時期,妥善應用偵測潔淨室環
              廠房的環境品質有嚴重的影響。為
                                              圖一 所 示, 其 定 義 為 酸 (Acids,        境汙染的監控儀器,無論在定性與
              了在建廠完成後順利移交工廠運
                                               簡 稱 MA): 包 括 鹽 酸、 硝 酸、 硫        定量皆能有效掌握發生的時間與頻
              轉,必須有效應用即時儀器量測系                  酸、 氫 氟 酸 等; 鹼 (Bases, 簡 稱       率,透過分析結果可以全盤了解空
              統 (Inline monitoring system) 以 及
                                               MB): 包 括 氨、HMDS、TMAH、           氣品質的控制方向,進而快速建立
              人 工 採 樣 分 析 法 (Offline analysis)  NMP 和 胺 (amines) 等; 可 凝 結 物    優良的環境。有關各種儀器的介紹
              之監控儀器,完整地掌握汙染物種                  (Condensables, 簡 稱 MC): 指 常     如 表一所示。
              類與濃度分布,進而協助工程人員                  壓下沸點大於室溫且會在表面凝結                 潔淨室欲形成循環氣流,必須透過
              執行有效的改善對策,提早讓新                   的化學物質,但不包含水;摻雜物                 外氣空調箱建立的外部循環以及風
              廠潔淨室 AMC 降低到既有廠的基                (Dopants, 簡 稱 MD): 可 改 變 半      機過濾機組維持的內部循環,如 圖
              準規範值 (Baseline and one sigma     導體物質之電性的化學元素如硼、                 二所示。圖中明確標示各監控儀器




                                          信心、毅力與                    世界上有兩件事                     擔任工地專案經理多
                                       裕 欣  勇氣三者具備               建 國  李 J. G. Lee  不能等:      鈺 洲  蘇 Y.C. Su  年,工作之餘,喜歡
                                          則沒有做不成                    一是「孝順」,                     研讀易經,從中看懂
                                          的事。                       二是「行善」。                     錯綜複雜的人事物
                                      黃 Y.S. Huang


                                                                              NEW FAB ENGINEERING JOURNAL         SEPTEMBER 2014  83
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