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2. 文獻探討 2.2.1 真空蒸餾法 [01]
2.1 廢硫酸來源與成因 真空蒸餾法流程如 圖1所示,利用常壓蒸餾方式,將廢硫
酸溶液加熱至340℃(硫酸之沸點),以去除水分與雜質,回收硫
晶圓清洗製程廢水及處理方法簡介晶圓清洗的目的,是
酸溶液經冷凝收集與成分調整後,可回送至製程使用。廢硫酸
以整個批次(batch type)或單晶片式(single wafer type)系統,藉
之回收率可達95%以上,回收液之硫酸濃度可高達97%以上。
由化學品的浸泡或噴灑來去除髒污,並用超純水來洗濯雜質,
由於此方法需將硫酸加熱至340℃,是非常耗費能源,不
主要是清除晶片表面所有的污染物,以濕式清洗製程為例早期
管是使用電產熱或是燃燒產熱,都必須使用大量能源才能分
以如 表1的批式為主(每批25片),主要配合:
離廢硫酸中的雙氧水。
① APM(NH 3 /H 2 O 2 /UPW):主要進行晶片上顆粒去除(particle
removal)
② HPM(HCL/H 2 O 2 /UPW):主要進行晶片上金屬離子及金屬
氧化物去除(metal ion/oxide removal)
③ SPM(H 2 SO 4 /H 2 O 2 /UPW):主要進行晶片上有機物去除
(organics removal)
④ HF Clean:主要進行晶片上二氧化矽去除(SiO 2 removal)
圖1、真空蒸餾法流程圖
⑤ IPA Dry:主要進行晶片上水份去除(water removal)
2.2.2 活性碳催化法 [02]
表1、批式濕式清洗製程機台示意圖
以活性碳進行H 2 O 2 催化的機制包含直接催化(direct
Wafer APM QDR HPM QDR SPM QDR HF QDR IPA Wafer
Loading (NH3/ (quick (HCl/ (quick (H2SO4/ (quick Clean (quick dry unloading catalysis)及間接催化(indirectcatalysis)分別說明如下 :
H2O2/ Drum H2O2/ Drum H2O2/ Drum Drum
UPW) Rinse) UPW) Rinse) UPW) Rinse) Rinse) ① 直接催化(direct catalysis) : 活性碳表面的氫氧根離子會
與離子態的雙氧水(HO 2- )進行交換進而產生過氧化自由
半導體業晶圓代工廠在晶圓製程中以高純度之硫酸清洗 基,此自由基會再與雙氧水反應進而產生氧氣並進一步
矽晶圓表面,主要用於光阻去除後之矽晶圓清洗,使用的硫 再生活性碳表面活性位置。
酸添加了過氧化氫(H 2 O 2 ),使其成為一強氧化劑,而將晶片中
[M-O]OH+H 2 O 2 → [M-O]OH H 2 O 2
的有機物氧化分解為CO 2 和H 2 O,因此產生了廢硫酸。主成份
[M-O]OH H 2 O 2 → [M-O]+HO 2 - +H 2 O
廢硫酸的濃度大於70%;過氧化氫約4∼5%左右;其他主要為
② 間接催化(indirect catalysis) : H 2 O 2 在活性碳間接催化下
水份。
產生OH‧及HO 2 ‧自由基,進行後續反應。
2.2 廢硫酸去除雙氧水方法探討與機制
+
-
AC+H 2 O 2 → AC +OH +OH -
傳統廢硫酸處理包括以下三種方法:①真空蒸餾法;② + +
AC +H 2 O 2 → AC+H +HO 2-
活性碳催化法;③加HCl催化法,各方法說明及優缺點比較彙
2.2.3 鹽酸催化法
整如 表2。
以HCl為催化劑,與廢硫酸中的雙氧水反應生成氯氣、氧
表2、廢硫酸去除雙氧水處理方法 氣、水。
H 2 O 2 +HCl → H 2 O+HOCl
項次 處理方法 方法說明 特色說明
1 真空蒸餾法 [03] 利用常壓蒸餾方式,將廢硫酸溶 優點 : 常壓操作,無操作上之安全顧慮,廢硫 HOCl+HCl ↔ H 2 O+Cl 2
液加熱至沸點以上,以去除水分 酸回收率可達95%以上
HOCl+H 2 O 2 → H 2 O+HCl+O 2
與雜質 缺點 : 耗能
2 活性碳催化法 [04] 粒狀活性碳作為雙氧水催化劑, 優點 : 安全性高,不需添加HCl等化學品,亦 H 2 O 2 +Cl 2 → 2HCl+O 2
以催化機制將其分解為水及氧 不會有氯氣等副產品
缺點 : 處理成本較高
總反應:2H 2 O 2 → O 2 +2H 2 O(HCl為催化劑)
3 加HCl催化法 加入HCl作為催化劑,將雙氧水分 優點 : 處理成本低
解為氧氣及氯氣 缺點 : 反應過程產生有毒氯氣,有工安問題 鹽酸催化法雖不必耗用大量能源,但因反應過程會釋出
大量有毒氯氣,考量環境工安問題,使其在推廣應用上受到
一些限制。
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