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Tech
Notes
技術專文
由IRDS的環境污染控制資料顯示(如 表2),目前在表面 前,對於這些不正常更換的料件少有進一步深入探究—故障
及環境污染物控制(Surface Environmental Contamination 失效分析。若能藉由化學、材料、微物、熱機械的分析,從
Control, SECC)的13項挑戰中,微粒子(particle)9項、金屬不 材質的改變、表面的裂解、機械力的衰減等,深入了解問題
純物(metal)2項、有機污染物(organic)1項、氣動分子污染物 根本,並針對這些潛在失效的原因,擬定具體且適當的預防
(AMC)量測1項,這些挑戰幾乎都是受限於現今儀器的偵測極 改善措施或制定標準,應可減少不預期失效的機會。公司內
限(detection limit)及可靠度(reliability)問題。 如此多的系統不乏各種使用年限的零配件,若能有效的分析
再由IRDS對微粒子、金屬不純物、有機污染物、氣動分 累積數據,將有助於系統運轉的優化。
子污染物品質的要求,將隨製程演進逐年縮緊,然而,這些污 以過濾器濾膜分析為例,常見濾膜堵塞型態可歸納為
染物的來源可能來自原物料本身、也可能是系統組件的溶出或 以下四種 : ⓐ完全堵塞(Complete blockage);ⓑ中度堵塞
裂解(例如 : 化學濾網chemical filter),因此在面臨系統維護及 (Intermediate blockage);ⓒ標準堵塞(Standard blockage);
[04]
異常問題解決時,必須有高靈敏度的分析技術,才能提供有效 ⓓ膜餅阻塞(Cake blockage)等,如 圖3所示。
的數據作判斷,在最短的時間內澄清問題,解決問題。
2.2 廠務材料測試
先進製程異丙醇、顯影液、硫酸的particle問題一再上
演,過濾器的規格也緊縮至1~2奈米(廠商聲稱),在DAIKIN一
份「關於聚四氟乙烯(Polytetrafluoro ethylene, PFA)管材表面 圖3、四種常見薄膜堵塞結構
粗糙度之新提案」的技術報告 [02] 中提到,半導體工廠中,藥 (摘自Kasper L. Jepsen et al./Water 2018, 10, 847; doi : 10.3390/w10070847)
劑用PFA管材、配件、閥門,水泵,過濾器、晶圓載具(wafer
carrier)等各種組件的需求不斷增加,由於高純度化學品與 目前針對薄膜堵塞分析可初步彙整為以下項目 : ①結構完
PFA管材的直接接觸,PFA表面的粗糙度(如 圖2)可能造成洗 整性測試;②薄膜通透性測試;③不純物顆粒分析;④薄膜機
淨不易,及particle沉積的問題、在先進奈米製程對於微粒子 械強度分析等,來找出失效發生的原因。針對薄膜結構完整性
的嚴格要求下,PFA管材表面粗糙度,管材與物料間的交互 測試,2017年Shanxue Jiang等研究學者藉由掃描式電子顯微
作用力(如 : 表面電位或表面張力)也應該被關注,許多材料表 鏡-能量色散X射線譜(Scanning Electron Microscope-Energy-
面的細微變化可能造成製程的影響。 Dispersive X-ray spectroscopy, SEM-EDX)的技術,彙整不同薄
材料失效測試 : 「失效」一詞主要是指材料受到物理或 膜污堵類型,進一步找出薄膜堵塞的原因,並提供表面污染物
化學反應後(如化學品、溫度、濕度或壓力的變化),令其喪 的成分資訊。 [05]
失其初始功能特性 [03] 。在廠務的供應系統中,一旦管線組件 另外,針對薄膜的完整性評估,通透性測試(Permeability
發生老化或失效,可能造成設備損傷、產品缺陷、良率下 Testing)也是常用來的評估薄膜失效的方式,如發泡點測試
[06]
降、工廠停線。對於系統材料配件依使用年限更換,絕對是 (bubble point) 。其原理是針對潤濕濾膜藉由調控壓力和氣
一個保守的對策,但遇問題提早被更換案例也經常發生,目 體流量所導致的壓差進行連續測量,其泡點值與濾膜孔徑有
圖2、不同等級PFA球晶尺寸大小及表面粗糙度
(摘自今村均, DAIKIN[技術報告]關於PFA管材表面粗糙度之新提案, 2020.08.25)
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