發表文章(1)

Vol.18 / 技術專文
Application of Photoionization Detector for Real-time AMC Monitoring in Cleanroom
光離子化偵測器在潔淨室內空氣分子污染物即時監控的應用
已有證據顯示空氣分子污染物(AMC)對半導體廠的製程良率具有顯著影響,不少案例證實其對晶圓缺陷(Defect)的直接關聯,包含腐蝕、成形異常或電性異常等問題,因此部份大廠將AMC納入潔淨室環控因子;另外,隨著半導體...

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