發表文章(4)

Vol.18 / 技術專文
Purge FOUP AMC Chelating with Chilling Impinger Sampling Technique for N16 Generation
16奈米世代晶圓傳送盒吹淨微污染耦合冷凝取樣新式技術
16奈米與20奈米之量產製程,廣泛應用具吹淨功能的晶圓傳送盒 FOUP(Front Opening Unified Pod)內。然因FOUP內可供採集的容積限制與其內含之污染濃度極其微量,故甚難就晶圓於FOUP內部...

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金筆獎入圍
Vol.14 / 技術專文
Influence of Cleanroom Ambient Humidity on the Formation of Nanoparticles
無塵室環境濕度對於奈米粒子污染生成的影響
Water condensation on wafer surfaces is highly related to the formation of nanometer size defect. In the ma...

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Vol.10 / 技術專文
Nanoparticle Contaminants Measuring and Source Tracking Syst
奈米粒子捕捉技術介紹
A new nanoparticle detecting and tracking system has been proposed to measure nanoparticle contamination an...

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Vol.08 / 技術專文
Nano Particle Control in Facility Design
奈米粒子與防治技術運用於廠務設計
由於製程技術的演進,積體電路線徑一路由65nm、45nm往28nm、22nm向下探伸,持續往16nm甚至更細微的尺寸發展。奈米粒子除了在物理性質與化學性質上,與巨積單元體有顯著差異,成為材料科學的熱門研究領域之外,...

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