Vol.18 / 技術專文
Purge FOUP AMC Chelating with Chilling Impinger Sampling Technique for N16 Generation
16奈米世代晶圓傳送盒吹淨微污染耦合冷凝取樣新式技術
16奈米與20奈米之量產製程,廣泛應用具吹淨功能的晶圓傳送盒 FOUP(Front Opening Unified Pod)內。然因FOUP內可供採集的容積限制與其內含之污染濃度極其微量,故甚難就晶圓於FOUP內部...

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Vol.18 / 技術專文
Application of Photoionization Detector for Real-time AMC Monitoring in Cleanroom
光離子化偵測器在潔淨室內空氣分子污染物即時監控的應用
已有證據顯示空氣分子污染物(AMC)對半導體廠的製程良率具有顯著影響,不少案例證實其對晶圓缺陷(Defect)的直接關聯,包含腐蝕、成形異常或電性異常等問題,因此部份大廠將AMC納入潔淨室環控因子;另外,隨著半導體...

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