摘要

固態污染物_去除效率精進改善
Keywords / local scrubber17,particulate5,hydrochloric acid,hydrofluoric acid2
F15B 空污排放標準除須符合半導體製造業相關法規外,亦須符合環境影響評估法及科管局之核定總量。因 2021年產能增量 30%,推估硫酸、氫氟酸、鹽酸排放總量會超過環評及科管局限值。本研究於不影響產能之條件下,將現址式防制設備導入二流體技術進行改善,康肯KT1000FA之微粒排放量由 18.0mg/min下降至1.1mg/min,去除效率改善94%;台禹IPI-SGA-310B+之微粒排放量由99.6mg/min下降至14mg/min,去除效率改善86%。
The F15B emissions standards for air pollution must comply with relevant regulations in the semiconductor manufacturing industry, as well as with the approved total amount under the Environmental Impact Assessment Act and the Science and Technology Policy Research and Information Center. Due to a projected 30% increase in production capacity in 2021, it is estimated that the total emissions of sulfuric acid, hydrogen fluoride, and hydrochloric acid will exceed the limits set by the Environmental Impact Assessment Act and the Science and Technology Policy Research and Information Center. This study improved the on-site pollution prevention equipment without affecting production capacity, resulting in a 94% improvement in removal efficiency for particulate emissions from the Kanken Techno KT 1000FA, reducing the particulate emission rate from 18mg/min to 1.1mg/min. The particulate emission rate from the Integrated Plasma IPI-SGA-310B+ was reduced from 99.6mg/min to 14mg/min, with an 86% improvement in removal efficiency.
1.前言
1943年美國洛杉磯光煙霧事件造成四百人死亡、1952年倫敦硫氧化物超標造成四千人死亡,在2013年中國 PM2.5 濃度超標,達到六倍紫爆濃度。借鑑歷史,我們可以知道科技發展若沒有重視空污防制,會造成環境及生命的重大危害。近幾年環保意識提升,台灣空氣品質已逐年改善,如圖1所示,台積更希望扮演環保領頭羊,引領供應商,創造永續未來。
圖1:歷年空品不健康等級以上(AQI>100)比率圖[1]

半導體製造業中,製程所使用之各種化學品造成無機酸 (硫酸、氫氟酸、鹽酸、硝酸及磷酸)排放,廢氣由機台排放至現址式防制設備(Local Scrubber, LSC)經熱裂解及水洗處理,廢氣再經主風管及共排風管至中央洗滌塔 (Central Scrubber) 水洗後從煙囪排放,全廠煙囪排放至環境須符合法規管制要求。
F15B空污排放標準除須符合半導體製造業空氣污染管制及排放標準外,亦須符合環境影響評估法及科管局之核定總量。因2021年產能增量30%,推估硫酸、氫氟酸、鹽酸排放總量會超過環評及科管局限值,需提前進行減量措施,如圖2所示。
圖2:無機酸排放量預估圖

因此,將2020年F15B全廠煙囪無機酸排放量透過柏拉圖分析,以 80/20 法則選擇硫酸、鹽酸及氫氟酸進行改善評估 (如圖3所示)。初步改善評估結果,因硫酸改善需擴增防制設備,現場無空間擺放,訂製設備交期長且須修改管路影響產能,因此針對氫氟酸及鹽酸排放優先進行改善。
圖3:無機酸排放量預估圖

2.文獻探討
2.1 微粒捕捉理論
微粒的捕捉方式包含了重力沉降、慣性衝擊、直接截流、靜電吸引,及布朗擴散。重力沉降是藉由地心引力之作用,使微粒沉降。慣性衝擊是藉由慣性作用使無法跟隨流體進行流動之微粒,以直線運動之路徑直接撞擊於障礙物上而被收集,為收集較大微粒的方法之一。直接截留發生於流體流經障礙物時,微粒的中心點與障礙物表面距離小於微粒的半徑時,微粒便會因接觸障礙物而被收集。靜電吸引是微粒與障礙物因電性相反被吸引捕捉的現象。小微粒的擴散現象是造成微粒被收集的重要機制之一,微粒過小時在流體中不規則運動,稱之為布朗運動,其碰觸到障礙物被捕捉稱之布朗擴散。
當微粒越小時,越易受到靜電及布朗擴散作用;當微粒越大:越易受到重力沉降、慣性衝擊、直接截留。較大或較小的微粒都較容易捕捉,但介於兩者間的粒徑反而相對不容易捕捉,其最不易捕捉的粒徑大小稱之為最易穿透粒徑。
2.2 粒狀污染物防治技術
粒狀污染物防治設備選用經常會依立徑尺寸、特性、處理風量不同而選定適合的處理設備,大致可分為以下五種,分別為袋式集塵器(Baghouse)、旋風集塵器(Cyclone)、重力沉降室(Gravity Setting Chamber)、靜電集塵器(Electrostatic Precipitator, ESP)及濕式洗滌塔(Wet Scurbber),選用時機及處理效率如表1所示。
處理設備 | 可收集之最小粒徑 | 處理效率 | 適用時機 |
---|---|---|---|
袋式集塵器 | < 1 μm | > 90 % |
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旋風集塵器 | 5~25 μm | 50~90 % |
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重力沉降室 | 50 μm | < 50 % | 用於前處理去除粒徑大之粉塵,以減輕後段設備負荷 |
靜電集塵器 | < 1 μm | 90~99 % |
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濕式洗滌塔 | > 10 μm | < 80 % |
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3.實驗方法
3.1 目標污染物分析
透過主風管無機酸採樣,比對主風管機台清單,並繪製排放地圖,氫氟酸(HF)確認化學氣相沉積製程 (Chemical Vapor Deposition, CVD) 排放量最高 (圖4);鹽酸(HCl) 確認擴散製程(Diffusion, Diff)排放量最高 (圖5)。
圖4:氫氟酸主風管濃度流布圖

圖5:鹽酸主風管濃度流布圖

3.2 文氏管
將文氏管應用於 LSC 加強微粒捕捉,使小微粒長大成大微粒,其原理是運用白努力定律(不可壓縮流體在穩定流場內其動能、位能及壓力守恆),讓管內漸縮前後的動能、位能及壓力守恆。
由於喉部截面積縮小,壓力降低流速增大,高速氣體將水噴成霧狀,達到慣性衝擊增強捕捉粒狀物的效果,如圖6所示。
圖6:文氏管核凝成長去除機制圖(a),與氣體流向圖(b)

3.3 濕式旋風集塵器
將細水霧灑水頭應用於 LSC 加強微粒捕捉小微粒吸水霧後,使其成長為 > 1um以上的大微粒 (圖7),大微粒再透過新增的濕式離心器將微粒離心至濾網上去除,濾網也透過灑水避免阻塞從側視圖觀察,大微粒從底部進入後,由離心器離心至濾網上,再經由灑水將其清除至水箱 (如圖8所示)。
圖7:二流體噴頭

圖8:濕式離心器

3.4 二流體噴頭
氣流及水流併稱為二流體(如圖9所示),氣體高壓噴射將水打散成微米級水霧,將固態微粒吸附水霧後轉變為大顆粒,再利用二流體高比表面積特性將固態微粒捕捉去除。
圖9:二流體噴頭

美國疾病管制與預防中心[3](Centers for Disease Control and Prevention, CDC)指出,水壓越高除塵效果越好,或單位水量下產生越多水滴其除塵效果也越好,另比較四種灑水頭 (如圖10),其中以 Atomizing Nozzle也就是二流體噴頭效果最好。
圖10:噴頭除塵效果比較[3]

4.結果與分析
4.1 氫氟酸永久對策-強化微粒捕捉能力
康肯廠商將原本的灑水頭更換為兩組二流體噴頭(如圖11),並將灑水方向改為朝下有助於固液接觸,使微粒成長效果更好。再將一個二流體噴頭斜放噴灑濾網,維持濾網潔淨度,降低系統壓損,維持機台正常運作。另外,新增的濕式離心器,透過離心力將微粒捕捉至濾網。
圖11:KT1000FA機台改造後

經工研院粒徑採樣分析,KT1000FA微粒排放量由18.0mg/min下降至1.1mg/min,去除效率改善94%(圖12⒜)。同時進行無機酸採樣分析,鹽酸去除效率改善86%(圖12⒝)。
圖12:KT1000FA改善前後比較圖

4.2 鹽酸永久對策-強化微粒捕捉能力
臺禹廠商將原本水箱上的灑水頭更換為兩段式文式管,使微粒經過文式管後增大,直接捕捉至水箱內。測試結果微粒去除效率僅 67% 未達 80% 要求,且切機保養時入口壓力超過限值,造成機台跳機,無法符合運轉需求。經確認,機台跳機為文氏管縮口設計造成,但漸縮管路設計為文氏管去除機制原理無法變更,因此請臺禹重新進行 PDCA 改善鹽酸。
參考二流體成功案例,將既有灑水頭更換為二流體,水箱上新增四組,原水洗段新增一組並改為向上噴灑,使小微粒吸細水霧後成長為大微粒,大微粒再經由臺禹既有的旋風集塵器將微粒離心至管壁去除。(圖13)
圖13:IPI改善前後MOUDI粒徑分析比較圖

改善後經工研院粒徑採樣分析,IPI-SGA-310B+ 微粒排放量由99.6mg/min下降至14.0mg/min,去除效率改善86% (圖14⒜)。同時進行無機酸採樣分析,鹽酸去除效率改善87% (圖14⒝)。
圖14:臺禹二流體改善前後比較圖

5.結論
透過主風管氣體監測器或無機酸量測結果確認改善前後的去除效率,氫氟酸主風管改善效率 89 – 92% 可長期維持132天以上,氟氣監測值穩定降至 warning 值以下約 0 - 200 ppb;鹽酸主風管改善效率 95 – 98% 可長期維持70天以上,LSC 改善效率 83 – 89% 可長期維持57天以上。
參考文獻
- 110年空氣品質監測年報─環境保護署。
- 行政院環境保護署環境保護人員訓練所,「空氣污染防制專責人員訓練教材」。
- Handbook for Dust Control in Mining (2019,2003) p.143.
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